Hochpräzises Interferometer für die Glasfaser-Endflächeninspektion

Der MAX-QS-H ist ein leistungsstarkes Weißlicht- und Phasenschiebe-Interferometer zur präzisen Prüfung von Glasfasersteckverbindern und blanken Fasern. Dank seiner kompakten Bauweise, der automatischen Fokussierung und der hohen Messgenauigkeit eignet sich das System ideal für den Einsatz in Fertigung, Qualitätssicherung und Laborumgebungen. In Verbindung mit der branchenführenden MaxInspect™-Software ermöglicht der MAX-QS-H schnelle, reproduzierbare und normkonforme Messergebnisse.

Präzise Messungen und hohe Effizienz

Der MAX-QS-H liefert hochauflösende 2D- und 3D-Oberflächenprofile mit einer Auflösung von bis zu 1,1 µm. Der integrierte Autofokus reduziert den Bedienaufwand auf ein Minimum und ermöglicht Messungen eines einzelnen Steckverbinders in unter zwei Sekunden. Neben der automatischen Erkennung von Oberflächenanomalien unterstützt das System umfassende Geometrieprüfungen, wie die Messung von Krümmungsradius, Apex-Versatz und Faserhöhe. Ein zusätzlicher Mikroskopiemodus erlaubt die visuelle Vorabkontrolle der Endfläche.

Flexibilität, Konnektivität und Normkonformität

Das Interferometer unterstützt eine Vielzahl gängiger und spezieller Steckverbindertypen, darunter ST, FC, SC, LC, MU, CS®, SN®, MDC, E2000™, MT-RJ, SMA sowie Sondersteckverbinder und gespleißte blanke Fasern. Der Scanbereich für die Faserhöhe beträgt standardmäßig bis zu 100 µm und kann für spezielle Anwendungen softwareseitig erweitert werden. Über die integrierte Datenbankanbindung lassen sich Messergebnisse zentral speichern und einfach in bestehende Fertigungssysteme integrieren. Prüfungen können gemäß IEC, Telcordia